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熱搜關(guān)鍵詞 : 3D AOI分板機(jī)錫膏冷藏回溫?cái)嚢铏C(jī)

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3D X RAY與2D X RAY的區(qū)別

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掃一掃!3D X RAY與2D X RAY的區(qū)別掃一掃!
瀏覽:- 發(fā)布日期:2020-02-25 21:15:13【

傳統(tǒng)的2D X RAY無法檢測通孔透錫不良、BGA虛焊空焊、雙面貼裝基板、POP焊接等缺陷,3D X RAY CT分層檢測技術(shù)可檢測出錫量不足的焊點(diǎn)。CT水平分層測試的有效突顯出其強(qiáng)大功能和不可替代性,很多用戶在使用3D X RAY檢查系統(tǒng)(AXI)之后發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品可靠性、精確度有了顯著提高。 3D X RAY檢測以下缺陷:       

1、雙面PCBAFLIP CHIP焊點(diǎn)       

2、BGA虛焊、空焊、枕窩       

3QFN/LGA焊接缺陷      

4THT/THR接插件通孔透錫不良      

5、IGBT雙層焊錫空洞       

6、POP堆疊封裝芯片

 

日本I-BIT在線3D X RAY自動(dòng)檢測CT斷層掃描       型號:ILX-1100/2000

 

ILX-1100



X射線立體方式能將被測物的正面、反面的圖像分開顯示的劃時(shí)代檢測技術(shù)。

特點(diǎn):

① 運(yùn)用X射線立體方式可進(jìn)行BGA等底面的焊錫部分的檢查

② 可以不受雙面貼裝基板反面的影響進(jìn)行檢查

③ 運(yùn)用X射線立體方式可使用3DCT斷層掃描檢查

④ 檢查PCB尺寸50*50~460*510mm

⑤ 安全設(shè)計(jì),小型,可省空間進(jìn)行在線檢查

 

自動(dòng)檢測應(yīng)用于:

BGA/CSP/POP/QFP/LCC等元件的管腳的彎曲、虛焊、橋連、翹起;焊錫:開路、短路、缺錫;BGA/CSP:短路、空洞、虛焊等缺陷


日本I-BIT離3D X RAY CT斷層掃描  型號:FX-300tRX/400tRX


FX-300

FX-300tRX/FX-400tRX快速查出2D X RAY無法檢查出的缺陷

2D/3D X RAY靈活切換

FOS耐用型平板偵測器

空間分解能2μm高解像度(FX-400tRX

 


典型應(yīng)用:

·雙面貼裝基板焊錫檢測

·BGA虛焊空焊枕窩缺陷

·QFN/LGA焊接缺陷

·THT/THR通孔透錫不良

·IGBT雙層焊錫的空洞

·POP等堆疊封裝元件 ...... 

2D X Ray的特點(diǎn)

適用于單面板檢測, 適合抽檢可檢測

BGA, CSP, QFN的空洞,短路,缺失等 

無法適用于雙面貼裝基板檢測, BGA虛焊、空焊、枕窩缺陷,、POP封裝元件


 短路

 

2D X Ray傾斜角度拍攝

通過經(jīng)驗(yàn)判斷可檢測出一部分的BGA空焊的缺陷 

 

BGA空焊


2D3D Ray的差距


缺陷


 

3合1

2D圖像重疊                                                                                  BGA正面圖像                                                                             BGA反面圖像


3D X RAY CT斷層掃描的特點(diǎn)

可將基板正反面分層,進(jìn)行獨(dú)立檢測

可將BGA錫球等焊點(diǎn)從上到下水平切割100(任意設(shè)定層數(shù))進(jìn)行斷層掃描檢查,適用于BGA虛焊空焊枕窩缺陷, POP堆疊封裝元件,雙面貼裝基板焊點(diǎn)和通孔焊錫不足等檢測

在線自動(dòng)檢測缺陷,AOI/SPI搭配成完整檢測線


3D X RAY CT斷層掃描技術(shù)

01

日本I-BIT公司從2000年開始研發(fā)生產(chǎn)X RAY,特有3D X-RAY立體方式在AXI技術(shù)領(lǐng)域保持領(lǐng)先的專業(yè)技術(shù)。

I-BITCT層析攝影技術(shù):

通過有序地移動(dòng)X射線束的位置和平板檢測器的觀察點(diǎn),可以得到一系列不同角度的圖像,計(jì)算機(jī)通過數(shù)學(xué)運(yùn)算將離軸拓?fù)鋱D信息組合起來, 離軸成像的每一個(gè)集合都包含了PCB兩面的元件信息,CT層析攝影合成技術(shù)算法可以快速生成PCB兩面的焊點(diǎn)成像,成像可以描繪PCB任意一面的焊點(diǎn)、焊盤等等的成像切片。

xray原理

BGA坡面圖



3D X RAY CT斷層掃描 ILX-1100/2000
100%全檢BGA空焊/虛焊HIP/枕頭效應(yīng)缺陷

裁剪(926X461)BGA2

X RAY原理

3D XRay分層檢查IGBT的焊接空洞

解決圓柱式pin-fin散熱板的X Ray的穿透重疊問題

IGBT兩圖裝

3D X Ray分層檢查IGBT

04


03



THT/THR通孔器件焊點(diǎn)使用3D X Ray檢查

THT通孔4合1

3D X Ray檢查接插件通孔透錫

通孔器件

3D X RAY CT分層檢測技術(shù)

通孔檢查4合1

3D X RAY CT分層檢測技術(shù)可解決軍用PCB組件焊接中因焊點(diǎn)焊錫不足導(dǎo)致臨界缺陷的問題,大大降低質(zhì)量故障的風(fēng)險(xiǎn)。

其將焊點(diǎn)或BGA焊球進(jìn)行任意分層切片檢測:焊盤連接層主要檢測虛焊、橋連、錫量不足;中間層主要檢測焊點(diǎn)空洞缺陷;頂部封裝層主要檢測器件損壞風(fēng)險(xiǎn)。

3D X RAY 傾斜CT(Computer Tomography) 基板

PCB箭頭

 通孔的3D XRAY CT影像樣品CT掃描3合1


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